国标依据

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宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法

Test methods for space vapour deposition protective film on semiconductor wire

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 43227-2023发布日期:2023-09-07实施日期:2024-01-01标准类别:方法中国标准分类号:A29国际标准分类号:49.040 归口单位:全国宇航技术及其应用标准化技术委员会执行单位:全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会主管部门:国家标准委

起草单位

北京微电子技术研究所中国航天电子技术研究院

起草人

赵元富姚全斌荆林晓李洪剑曹燕红刘思嘉林鹏荣冯小成付明洋林建京刘征宇

相近标准(计划)

20250577-T-469 化学气相沉积用硅喷射管YB/T 100-1997 集成电路引线框架用4J42K合金冷轧带材YB/T 100-2016 集成电路引线框架用4J42K合金冷轧带材GB/T 43931-2024 宇航用微波集成电路芯片通用规范GB/T 15876-2015 半导体集成电路塑料四面引线扁平封装引线框架规范GB/T 16525-2015 半导体集成电路塑料有引线片式载体封装引线框架规范GB/T 38345-2019 宇航用半导体集成电路通用设计要求GB/T 43228-2023 宇航用抗辐射加固集成电路单元库设计要求SJ/T 11773-2021 半导体集成电路冲压型引线框架JC/T 2243-2014 等离子体增强化学气相沉积工艺用覆膜石英管

相关服务热线: 如需《GB/T 43227-2023》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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微析研究所是先进材料科学、环境环保、生物医药研发及CMC药学研究、一般消费品质量服务、化妆品研究服务、工业品服务和工程质量保证服务的全球检验检测认证 (TIC)服务提供者。微析研究所提供超过25万种分析方法的组合,为客户实现产品或组织的安全性、合规性、适用性以及持续性的综合检测评价服务。

十多年的专业技术积累

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服务众多客户解决技术难题

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每年出具十余万+份技术报告

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2500+名专业技术人员

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