宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法
Test methods for space vapour deposition protective film on semiconductor wire
基础信息
标准号:GB/T 43227-2023发布日期:2023-09-07实施日期:2024-01-01标准类别:方法中国标准分类号:A29国际标准分类号:49.040 归口单位:全国宇航技术及其应用标准化技术委员会执行单位:全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会主管部门:国家标准委
起草单位
北京微电子技术研究所中国航天电子技术研究院
起草人
赵元富姚全斌荆林晓李洪剑曹燕红刘思嘉林鹏荣冯小成付明洋林建京刘征宇
相近标准(计划)
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