宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit
基础信息
标准号：GB/T 43226-2023发布日期：2023-09-07实施日期：2024-01-01标准类别：方法中国标准分类号：V25国际标准分类号：49.140 归口单位：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会执行单位：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会主管部门：国家标准委
起草单位
北京微电子技术研究所中国航天电子技术研究院
起草人
赵元富陈雷郑宏超李哲陈淼王汉宁王亮岳素格林建京李永峰
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