半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查

基础信息

标准号：GB/T 4937.35-2024发布日期：2024-03-15实施日期：2024-07-01标准类别：方法中国标准分类号：L40国际标准分类号：31.080.01 归口单位：工业和信息化部（电子）执行单位：工业和信息化部（电子）主管部门：工业和信息化部（电子）

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-35:2006。采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所

起草人

裴选赵海龙彭浩尹丽晶

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