半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分:温湿度贮存
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 42:Temperature and humidity storage
基础信息
标准号:GB/T 4937.42-2023发布日期:2023-05-23实施日期:2023-12-01标准类别:方法中国标准分类号:L40国际标准分类号:31.080.01 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会主管部门:工业和信息化部(电子)
采标情况
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-42:2014。采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分:温湿度贮存。
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所安徽俊承科技有限公司河北北芯半导体科技有限公司武汉中原电子集团有限公司武汉格物芯科技有限公司深圳基本半导体有限公司
起草人
裴选周勇尹丽晶汪之涵崔从俊何黎张魁和巍巍
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