国标依据

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半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分:温湿度贮存

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 42:Temperature and humidity storage

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 4937.42-2023发布日期:2023-05-23实施日期:2023-12-01标准类别:方法中国标准分类号:L40国际标准分类号:31.080.01 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会主管部门:工业和信息化部(电子)

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-42:2014。采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分:温湿度贮存。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所安徽俊承科技有限公司河北北芯半导体科技有限公司武汉中原电子集团有限公司武汉格物芯科技有限公司深圳基本半导体有限公司

起草人

裴选周勇尹丽晶汪之涵崔从俊何黎张魁和巍巍

相近标准(计划)

20201540-T-339 半导体器件机械和气候试验方法第10部分:机械冲击 器件和组件20193134-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分:密封20141818-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分:温度循环20201547-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分:闩锁试验20201541-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分:稳态加速度20231752-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分:标志耐久性20201539-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分:带存储的半导体器件的软错误试验方法20201546-T-339 半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分:半导体器件的中子辐照单粒子效应(SEE)试验方法20201542-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第16部分:粒子碰撞噪声检测(PIND)20193135-T-339 半导体器件机械和气候试验方法第7部分:内部水汽测量和其他残余气体分析

相关服务热线: 如需《GB/T 4937.42-2023》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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