国标依据

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半导体集成电路 模拟数字(AD)转换器

Semiconductor integrated circuits—Analog digital(AD) converter

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 42839-2023发布日期:2023-08-06实施日期:2023-12-01标准类别:产品中国标准分类号:L56国际标准分类号:31.200 归口单位:全国集成电路标准化技术委员会执行单位:全国集成电路标准化技术委员会主管部门:工业和信息化部(电子)

起草单位

中国电子技术标准化研究院成都华微电子科技股份有限公司中国电子科技集团公司第五十八研究所四川翊晟芯科信息技术有限公司中国科学院半导体研究所惠阳东亚电子制品有限公司杭州电子科技大学成都振芯科技股份公司中国电子科技集团公司第二十四研究所北京芯可鉴科技有限公司广东伟照业光电节能有限公司杭州万高科技股份有限公司

起草人

李锟邢浩王会影张涛钟明琛李文昌林玲隋春娟张驰李大刚雷郎成谢红建董鸿亮王永军

相近标准(计划)

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相关服务热线: 如需《GB/T 42839-2023》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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十多年的专业技术积累

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服务众多客户解决技术难题

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每年出具十余万+份技术报告

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2500+名专业技术人员

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