国标依据

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微波半导体集成电路 放大器

Microwave semiconductor integrated circuits—Amplifier

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 42837-2023发布日期:2023-08-06实施日期:2023-12-01标准类别:产品中国标准分类号:L56国际标准分类号:31.200 归口单位:全国集成电路标准化技术委员会执行单位:全国集成电路标准化技术委员会主管部门:工业和信息化部(电子)

起草单位

中国电子技术标准化研究院深圳微步信息股份有限公司中国电子科技集团公司第五十五研究所成都亚光电子股份有限公司青岛金汇源电子有限公司中国航天科工集团第三十五研究所中国电子科技集团公司第十三研究所杭州电子科技大学广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司惠州市睿鼎电子科技有限公司中国电子科技集团公司第三十八研究所

起草人

周俊霍玉柱吴维丽尹丽仪李德鹏刘芳黄建新邢浩杨晓瑜朱镇忠汪邦金赵岩

相近标准(计划)

20233953-T-339 半导体器件 第16-1部分 : 微波集成电路 放大器GB/T 20870.1-2007 半导体器件第16-1部分:微波集成电路放大器20240036-T-339 半导体器件 第16-7部分:微波集成电路 衰减器SJ/T 10264-1991 半导体集成电路CD3161CS双前置放大器详细规范SJ/T 10262-1991 半导体集成电路CD7640GP调频/调幅中频放大器详细规范SJ/T 10266-1991 半导体集成电路CF714型精密带运算放大器详细规范SJ/T 10268-1991 半导体集成电路CF253型低功耗运算放大器详细规范SJ/T 10270-1991 半导体集成电路CF3080型跨导运算放大器详细规范SJ/T 10267-1991 半导体集成电路CF715型高速运算放大器详细规范SJ/T 10260-1991 半导体集成电路CD7232CS双音频放大器详细规范

相关服务热线: 如需《GB/T 42837-2023》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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十多年的专业技术积累

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服务众多客户解决技术难题

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每年出具十余万+份技术报告

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2500+名专业技术人员

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