硅外延片
Silicon epitaxial wafers
基础信息
标准号:GB/T 14139-2019发布日期:2019-06-04实施日期:2020-05-01全部代替标准:GB/T 14139-2009标准类别:产品中国标准分类号:H82国际标准分类号:29.045 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门:国家标准委
起草单位
浙江金瑞泓科技股份有限公司上海合晶硅材料有限公司有研半导体材料有限公司南京国盛电子有限公司有色金属技术经济研究院
起草人
张海英李慎重胡金枝卢立延蒋玉龙骆红李素青
相近标准(计划)
20243061-T-469 300 mm硅外延片GB/T 14015-1992 硅-蓝宝石外延片GB/T 44334-2024埋层硅外延片GB/T 35310-2017 200mm硅外延片GB/T 30652-2023 硅外延用三氯氢硅GB/T 24575-2009 硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法20240139-T-469 硅外延用三氯氢硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法SJ/T 11470-2014 发光二极管外延片YS/T 1059-2015 硅外延用三氯氢硅中总碳的测定 气相色谱法GB/T 43885-2024碳化硅外延片
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