锗单晶和锗单晶片

基础信息

标准号：GB/T 5238-2019发布日期：2019-06-04实施日期：2020-05-01全部代替标准：GB/T 5238-2009标准类别：产品中国标准分类号：H82国际标准分类号：29.045 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门：国家标准委

起草单位

中锗科技有限公司广东先导稀材股份有限公司北京合能阳光新能源技术有限公司云南临沧鑫圆锗业股份有限公司有色金属技术经济研究院

起草人

柯尊斌刘新军尹士平杨素心惠峰朱刘肖宗镛

相近标准(计划)

YS 783-2012 红外锗单晶单位产品能源消耗限额YS/T 1182-2016 锗单晶安全生产规范JB/T 12068-2014 TDR-Z直拉法锗单晶炉SJ/T 10625-1995 锗单晶中间隙氧含量的红外吸收测量方法GB/T 26072-2010 太阳能电池用锗单晶GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法GB/T 26074-2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法GB/T 34481-2017 低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度（EPD）的测量方法JB/T 6650-1993 飞机刹车用烧结金属摩擦片和对偶片GB/T 29508-2013 300mm 硅单晶切割片和磨削片

相关服务热线： 如需《GB/T 5238-2019》相关的服务，可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国，专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。