国标依据

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服务热线:

半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求

Semiconductor die products—Part 6: Requirements for concerning thermal simulation

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 35010.6-2018发布日期:2018-03-15实施日期:2018-08-01标准类别:产品中国标准分类号:L55国际标准分类号:31.200 归口单位:全国集成电路标准化技术委员会执行单位:全国集成电路标准化技术委员会主管部门:工业和信息化部(电子)

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62258-6:2006。采标中文名称:半导体芯片产品 第6部分:热仿真信息要求。

起草单位

哈尔滨工业大学成都振芯科技股份有限公司中国航天科技集团公司第九研究院第七七二所北京大学

起草人

刘威张威罗彬张亚婷王春青林鹏荣

相近标准(计划)

GB/T 35010.5-2018 半导体芯片产品 第5部分:电学仿真要求20130215-T-469 技术产品文件 产品设计数据管理要求 第6部分:产品结构管理20130205-T-469 技术产品文件 基于模型定义要求 第6部分:服务数据GB/T 39334.5-2020 机械产品制造过程数字化仿真 第5部分:典型工艺仿真要求GB 30439.6-2014 工业自动化产品安全要求第6部分: 电磁阀的安全要求SN/T 3701.6-2014 进口旧机电产品检验技术要求 第6部分:土方装载机械GB/T 35010.1-2018 半导体芯片产品 第1部分:采购和使用要求NB/T 10464.6-2020 太阳能热利用系统采购技术规范 第6部分:太阳能工业、农业供热工程GB/T 39334.4-2020 机械产品制造过程数字化仿真 第4部分:数控加工过程仿真要求GB/T 39334.3-2020 机械产品制造过程数字化仿真 第3部分:装配车间物流仿真要求

相关服务热线: 如需《GB/T 35010.6-2018》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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服务众多客户解决技术难题

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