国标依据

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服务热线:

太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法

Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 30860-2014发布日期:2014-07-24实施日期:2015-04-01上次复审日期:2016-12-31上次复审结论:继续有效标准类别:方法中国标准分类号:H21国际标准分类号:77.040 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门:国家标准委

起草单位

中国有色金属工业标准计量质量研究所江苏协鑫硅材料科技发展有限公司特变电工新疆新能源股份有限公司连云港国家硅材料深加工产品质量监督检验中心瑟米莱伯贸易(上海)有限公司有研半导体材料股份有限公司洛阳鸿泰半导体有限公司

起草人

徐自亮任皓孙燕熊金杰陈佳洵李锐

相近标准(计划)

SJ/T 11628-2016 太阳能电池用硅片尺寸及电学表征在线测试方法SJ/T 11631-2016 太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法SJ/T 11630-2016 太阳能电池用硅片几何尺寸测试方法SJ/T 11632-2016 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法SJ/T 11627-2016 太阳能电池用硅片电阻率在线测试方法GB/T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法GB/T 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法JC/T 2065-2011 太阳能电池硅片用石英舟GB/T 30859-2014 太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法JC/T 2066-2011 太阳能电池硅片用石英玻璃扩散管

相关服务热线: 如需《GB/T 30860-2014》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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微析研究所总部位于北京,拥有数家国内检测、检验(监理)、认证、研发中心,1家欧洲(荷兰)检验、检测、认证机构,以及19家国内分支机构。微析研究所拥有35000+平方米检测实验室,超过2000人的技术服务团队。

业务领域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试(光谱、能谱、质谱、色谱、核磁、元素、离子等测试服务)、性能测试、成分检测等服务;致力于化学材料、生物医药、医疗器械、半导体材料、新能源、汽车等领域的专业研究,为相关企事业单位提供专业的技术服务。

微析研究所是先进材料科学、环境环保、生物医药研发及CMC药学研究、一般消费品质量服务、化妆品研究服务、工业品服务和工程质量保证服务的全球检验检测认证 (TIC)服务提供者。微析研究所提供超过25万种分析方法的组合,为客户实现产品或组织的安全性、合规性、适用性以及持续性的综合检测评价服务。

十多年的专业技术积累

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服务众多客户解决技术难题

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每年出具十余万+份技术报告

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2500+名专业技术人员

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