太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法
Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells
基础信息
标准号:GB/T 30860-2014发布日期:2014-07-24实施日期:2015-04-01上次复审日期:2016-12-31上次复审结论:继续有效标准类别:方法中国标准分类号:H21国际标准分类号:77.040 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门:国家标准委
起草单位
中国有色金属工业标准计量质量研究所江苏协鑫硅材料科技发展有限公司特变电工新疆新能源股份有限公司连云港国家硅材料深加工产品质量监督检验中心瑟米莱伯贸易(上海)有限公司有研半导体材料股份有限公司洛阳鸿泰半导体有限公司
起草人
徐自亮任皓孙燕熊金杰陈佳洵李锐
相近标准(计划)
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