太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法
Test method for warp and waviness of silicon wafers for solar cells
基础信息
标准号：GB/T 30859-2014发布日期：2014-07-24实施日期：2015-04-01上次复审日期：2016-12-31上次复审结论：继续有效标准类别：方法中国标准分类号：H21国际标准分类号：77.040 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门：国家标准委
起草单位
江苏协鑫硅材料科技发展有限公司有研半导体材料股份有限公司瑟米莱伯贸易（上海）有限公司
起草人
薛抗美夏根平徐自亮黄黎孙燕林清香
相近标准(计划)
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