表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法
Surface chemical analysis-Sputter depth profiling-Optimization using layered systems as reference materials
基础信息
标准号:GB/T 20175-2006发布日期:2006-03-27实施日期:2006-11-01上次复审日期:2023-12-28上次复审结论:修订标准类别:方法中国标准分类号:N33国际标准分类号:71.040.40 归口单位:全国表面化学分析标准化技术委员会执行单位:全国表面化学分析标准化技术委员会主管部门:中国科学院
采标情况
本标准等同采用ISO国际标准:ISO 14606:2000。采标中文名称:表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法。
起草单位
清华大学电子工程系
起草人
查良镇陈旭黄天斌刘林王光普黄雁华
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