半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
行业标准
电子
基础信息
标准号：SJ/T 11706-2018
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
制修订：制定
中国标准分类号：L55
国际标准分类号：31.2
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会
批准发布部门：工业和信息化部
行业分类：信息传输、软件和信息技术服务业
标准类别：无
备案信息
备案号：63632-2018
备案日期：2018-05-25
备案公告：2018年第6号(总第222号)
起草单位
中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电子技术研究所等
起草人
刘芳、尹航、胡海涛 等
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