半导体发光二极管芯片测试方法
基础信息
标准号:SJ/T 11399-2009
发布日期:2009-11-17
实施日期:2010-01-01
制修订:制定
中国标准分类号:L45
技术归口:中国电子技术标准化研究所
批准发布部门:工业和信息化部
行业分类:无
标准类别:无
备案信息
备案号:26875-2010
备案日期:2014-12-26
备案公告:2010年第1号(总第121号)
起草单位
中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司等
起草人
鲍超、胡爱华 等
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