锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法
Test method for resistivity and hall coefficient indium antimonide single crystals
基础信息
标准号：GB/T 11297.7-1989发布日期：1989-03-31实施日期：1990-01-01上次复审日期：2016-12-31上次复审结论：继续有效标准类别：方法中国标准分类号：L32归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门：国家标准委
起草单位
航空航天部8358研究所
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