半导体器件 第12-3部分:光电子器件 显示用发光二极管空白详细规范
Semiconductor devices--Part 12-3:Optoelectronic devices--Blank detail specification for light-emitting diodes--Display application
基础信息
标准号:GB/T 18904.3-2002发布日期:1990-12-06实施日期:2003-05-01上次复审日期:2023-12-28上次复审结论:继续有效标准类别:基础中国标准分类号:L54国际标准分类号:31.260 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会主管部门:工业和信息化部(电子)
采标情况
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60747-12-3:1998 QC 720103。采标中文名称:。
起草单位
华禹光谷股份有限公司半导体厂
相近标准(计划)
SJ/T 11817-2022 半导体光电子器件 灯丝灯用发光二极管空白详细规范SJ/T 11393-2009 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范SJ/T 11400-2009 半导体光电子器件 小功率半导体发光二极管空白详细规范20241807-T-339 液晶显示器件第3-1部分:液晶显示(LCD)屏空白详细规范SJ/T 11248-2001 液晶和固态显示器件 第3-1部分:液晶显示(LCD)屏空白详细规范GB/T 36360-2018 半导体光电子器件 中功率发光二极管空白详细规范GB/T 36358-2018 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范GB/T 36359-2018 半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范20231206-T-339 半导体器件 第5-8部分:光电子器件 发光二极管 光电效率测试方法SJ/T 11152-1998 交流粉末电致发光显示器件空白详细规范
相关服务热线: 如需《GB/T 18904.3-2002》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。
热门服务