半导体器件 恒流电迁移试验

基础信息

标准号：GB/T 45722-2025发布日期：2025-05-30实施日期：2025-09-01标准类别：方法中国标准分类号：L40国际标准分类号：31.080.01 归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62415:2010。采标中文名称:半导体器件 恒流电迁移试验。

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所中国电子科技集团公司第十三研究所深圳市诚芯微科技股份有限公司中绍宣标准科技集团有限公司西安电子科技大学深圳市威兆半导体股份有限公司广东工业大学深圳市天成照明有限公司

起草人

章晓文林晓玲尹丽晶贺致远雷登云王铁羊彭浩李伟聪林坚耿游海龙周斌来萍张战刚孟苓辉陈义强曹建林崔从俊

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