半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits
基础信息
标准号：GB/T 14115-1993发布日期：1993-01-21实施日期：1993-08-01上次复审日期：2023-12-28上次复审结论：继续有效标准类别：方法中国标准分类号：L56国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位
上海元件五厂
相近标准(计划)
SJ/T 10427.2-1993 半导体集成电路音响电路中频放大器测试方法的基本原理SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T 10804-2000 半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理SJ/T 10805-2000 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理SJ/T 10427.1-1993 半导体集成电路音响电路调频变频器测试方法的基本原理GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
相关服务热线： 如需《GB/T 14115-1993》相关的服务，可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国，专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。
热门服务
