国标依据

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表面化学分析 二次离子质谱 单离子计数飞行时间质谱分析器的强度标线性

Surface chemical analysis—Secondary ion mass spectrometry—Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 45768-2025发布日期:2025-06-30实施日期:2026-01-01标准类别:方法中国标准分类号:G 04国际标准分类号:71.040.40 归口单位:全国表面化学分析标准化技术委员会执行单位:全国表面化学分析标准化技术委员会主管部门:中国科学院

采标情况

本标准等同采用ISO国际标准:ISO 17862:2022。采标中文名称:表面化学分析 二次离子质谱 单离子计数飞行时间质谱分析器的强度标线性。

起草单位

中山大学西安交通大学清华大学

起草人

谢方艳杨慕紫孟令杰周国庆陈建李展平梁艳

相近标准(计划)

GB/T 40129-2021 表面化学分析二次离子质谱飞行时间二次离子质谱仪质量标校准GB/T 43663-2024 表面化学分析 二次离子质谱 静态二次离子质谱相对强度标的重复性和一致性20251838-Z-491 表面化学分析 二次离子质谱 质量分辨测量方法20253640-T-491 表面化学分析 二次离子质谱 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子GB/T 25186-2010 表面化学分析 二次离子质谱 - 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子GB/T 32495-2016 表面化学分析二次离子质谱硅中砷的深度剖析方法GB/T 40109-2021 表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法SJ/T 11493-2015 硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法SJ/T 11498-2015 重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法GB/T 20176-2006 表面化学分析二次离子质谱用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度

相关服务热线: 如需《GB/T 45768-2025》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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服务众多客户解决技术难题

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