国标依据

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微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法

Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 43087-2023发布日期:2023-09-07实施日期:2024-04-01标准类别:方法中国标准分类号:N33国际标准分类号:71.040.50 归口单位:全国微束分析标准化技术委员会执行单位:全国微束分析标准化技术委员会主管部门:国家标准委

采标情况

本标准修改采用ISO国际标准:ISO 20263:2017。采标中文名称:微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法。

起草单位

北京科技大学

起草人

权茂华柳得橹

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