元器件位移损伤试验方法

基础信息

标准号：GB/T 42969-2023发布日期：2023-09-07实施日期：2024-01-01标准类别：方法中国标准分类号：L56国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

起草单位

中国空间技术研究院西北核技术研究院中国科学院新疆理化技术研究所中国工程物理研究院核物理与化学研究所中国电子科技集团公司第四十四研究所扬州大学

起草人

罗磊于庆奎张洪伟郑春汪朝敏李豫东唐民朱恒静陈伟丁李利文林薛玉雄

相近标准(计划)

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