集成电路 CMOS图像传感器测试方法

基础信息

标准号：GB/T 43063-2023发布日期：2023-09-07实施日期：2024-01-01标准类别：方法中国标准分类号：L54国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

起草单位

中国科学院长春光学精密机械与物理研究所天津大学中国电子技术标准化研究院重庆光电技术研究所长春精测光电技术有限公司深圳佑驾创新科技有限公司

起草人

李俊霖张涛赵宇聂真威马洪涛卢岩唐延甫聂凯明马悦刘国清兰太吉杨永强韩冰金辉徐江涛刘昌举李金高志远王琪刘秀娟

相近标准(计划)

SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理GB/T 41033-2021 CMOS集成电路抗辐射加固设计要求SJ/T 10038-1991 半导体集成电路CMOS4000系列运算器SJ/T 10039-1991 半导体集成电路CMOS4000系列译码器SJ/T 10041-1991 半导体集成电路CMOS4000系列移位寄存器SJ/T 10254-1991 半导体集成电路CB301型CMOS模拟开关详细规范20250936-T-339 半导体器件第14-12部分： 半导体传感器基于CMOS成像的气体传感器的性能测试方法SJ/T 10253-1991 半导体集成电路CC4046型CMOS数字锁相环详细规范SJ/T 10252-1991 半导体集成电路CB7660型CMOS电源电压转换器详细规范SJ/T 10428-1993 54/74HC、54/74HCT、54/74HCV系列高速CMOS数字集成电路空白详细规范

相关服务热线： 如需《GB/T 43063-2023》相关的服务，可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国，专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。