半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求
Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 20: Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits—Section 1: Requirements for internal visual examination
基础信息
标准号：GB/T 43035-2023发布日期：2023-09-07实施日期：2023-09-07标准类别：方法中国标准分类号：L57国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）
采标情况
本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60748-20-1:1994。采标中文名称:半导体器件 集成电路 第20 部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求。
起草单位
中国电子科技集团公司第四十三研究所中国电子技术标准化研究院
起草人
王婷婷呂红杰李林森雷剑冯玲玲王琪张亚娟
相近标准(计划)
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