半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Test method of AC/DC converters
基础信息
标准号：GB/T 43040-2023发布日期：2023-09-07实施日期：2024-04-01标准类别：方法中国标准分类号：L55国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位
中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所中国电子科技集团公司第五十八研究所
起草人
王福强刘玢马宝锋陈志培胡巧玉李雷邓些鹏刘强韩新峰
相近标准(计划)
GB/T 43041-2023 混合集成电路 直流/直流（DC/DC）变换器GB/T 24347-2021 电动汽车DC/DC变换器QC/T 1152-2021 电动摩托车和电动轻便摩托车用DC/DC变换器技术条件20242556-T-339 半导体集成电路 嵌入式存储器测试方法20242895-T-604 数据中心和电信中心机房安装的信息和通信技术（ICT）设备用直流器具耦合器 第3部分：AC/DC器具输入插座GB/T 40853.2-2023 高频感性元件电特性及其测量方法 第2部分：DC-DC变换器用电感器额定电流20252214-T-524 交流1kV及直流1.5kV以上电力设施 第1部分：交流SJ/T 11702-2018 半导体集成电路 串行外设接口测试方法SJ/T 10805-2018 半导体集成电路 电压比较器测试方法GB/T 311.14-2024 绝缘配合 第14部分：高压直流系统AC/DC滤波器绝缘配合
相关服务热线： 如需《GB/T 43040-2023》相关的服务，可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国，专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。
热门服务
