国标依据

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单光子源性能表征及测量方法

Characterization and measurement of the performance of single-photon sources

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 43784-2024发布日期:2024-03-15实施日期:2024-10-01标准类别:方法中国标准分类号:A60国际标准分类号:17.180.20 归口单位:全国量子计算与测量标准化技术委员会执行单位:全国量子计算与测量标准化技术委员会主管部门:国家标准委

起草单位

中国计量科学研究院科大国盾量子技术股份有限公司山西大学中国科学院上海微系统与信息技术研究所深圳中国计量科学研究院技术创新研究院济南量子技术研究院中国科学技术大学华东师范大学中国电子信息产业集团有限公司中国计量大学中国电子科技集团公司第四十一研究所

起草人

甘海勇霍永恒许金时傅杨挺王军民王增斌田颖宋振飞胡建勇于春霖王明磊赵勇武愕唐世彪廖胜凯李文文王浩敏史学舜包小辉王海龙王柳

相近标准(计划)

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相关服务热线: 如需《GB/T 43784-2024》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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微析研究所是先进材料科学、环境环保、生物医药研发及CMC药学研究、一般消费品质量服务、化妆品研究服务、工业品服务和工程质量保证服务的全球检验检测认证 (TIC)服务提供者。微析研究所提供超过25万种分析方法的组合,为客户实现产品或组织的安全性、合规性、适用性以及持续性的综合检测评价服务。

十多年的专业技术积累

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服务众多客户解决技术难题

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每年出具十余万+份技术报告

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2500+名专业技术人员

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