国标依据

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碳化硅外延片

Silicon carbide epitaxial wafers

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 43885-2024发布日期:2024-04-25实施日期:2024-11-01标准类别:产品中国标准分类号:H83国际标准分类号:29.045 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门:国家标准委

起草单位

南京国盛电子有限公司上海天岳半导体材料有限公司瀚天天成电子科技(厦门)股份有限公司有色金属技术经济研究院有限责任公司山西烁科晶体有限公司安徽长飞先进半导体有限公司上海合晶硅材料股份有限公司杭州乾晶半导体有限公司浙江晶睿电子科技有限公司沈阳星光技术陶瓷有限公司海迪科(南通)光电科技有限公司连科半导体有限公司广东天域半导体股份有限公司北京天科合达半导体股份有限公司TCL环鑫半导体(天津)有限公司南京盛鑫半导体材料有限公司河北普兴电子科技股份有限公司中电化合物半导体有限公司江苏华兴激光科技有限公司湖南三安半导体有限责任公司宁波合盛新材料有限公司深圳基本半导体有限公司哈尔滨科友半导体产业装备与技术研究院有限公司

起草人

李国鹏仇光寅李素青丁雄杰冯淦杨玉聪薛宏伟刘红超刘薇王岩陈浩袁肇耿汪之涵黄勤金和巍巍刘勇骆红舒天宇佘宗静王银海侯晓蕊金向军尚海波徐所成李毕庆周勋刘长春赵丽丽胡动力

相近标准(计划)

20243061-T-469 300 mm硅外延片GB/T 42902-2023 碳化硅外延片表面缺陷的测试激光散射法20250731-T-469 碳化硅外延层载流子寿命的测试 瞬态吸收法GB/T 14139-2019 硅外延片GB/T 14015-1992 硅-蓝宝石外延片

相关服务热线: 如需《GB/T 43885-2024》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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微析·国内大型研究型检测中心

微析研究所总部位于北京,拥有数家国内检测、检验(监理)、认证、研发中心,1家欧洲(荷兰)检验、检测、认证机构,以及19家国内分支机构。微析研究所拥有35000+平方米检测实验室,超过2000人的技术服务团队。

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微析研究所是先进材料科学、环境环保、生物医药研发及CMC药学研究、一般消费品质量服务、化妆品研究服务、工业品服务和工程质量保证服务的全球检验检测认证 (TIC)服务提供者。微析研究所提供超过25万种分析方法的组合,为客户实现产品或组织的安全性、合规性、适用性以及持续性的综合检测评价服务。

十多年的专业技术积累

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服务众多客户解决技术难题

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每年出具十余万+份技术报告

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2500+名专业技术人员

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