国标依据

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空间环境 宇航用半导体器件在轨单粒子翻转率预计方法

Space environment—Method of single event upset rates prediction of semiconductor devices for space applications

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 44181-2024发布日期:2024-07-24实施日期:2024-07-24标准类别:方法中国标准分类号:V06国际标准分类号:49.020 归口单位:全国宇航技术及其应用标准化技术委员会执行单位:全国宇航技术及其应用标准化技术委员会空间环境分会主管部门:中国科学院

起草单位

中国空间技术研究院哈尔滨工业大学中国科学院国家空间科学中心国防科技大学北京微电子技术研究所

起草人

孙毅张洪伟于庆奎魏志超朱恒静黄金英韩建伟王天琦梅博莫日根曹爽唐民梁斌李昌宏马英起郑宏超

相近标准(计划)

20251123-T-491 空间环境 宇航用电子元器件单粒子烧毁试验方法GB/T 43967-2024 空间环境 宇航用半导体器件单粒子效应脉冲激光试验方法20232032-T-491 空间环境 宇航用电子元器件空间环境效应模拟试验通用要求20201546-T-339 半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分:半导体器件的中子辐照单粒子效应(SEE)试验方法20250771-Z-469 空间碎片在轨清除指南20251895-T-491 空间环境 宇航用电子元器件电离总剂量效应电子辐照试验方法GB/T 39343-2020 宇航用处理器器件单粒子试验设计与程序20240458-T-801 空间站大型挠性结构模态参数在轨测量及辨识方法GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法20201542-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第16部分:粒子碰撞噪声检测(PIND)

相关服务热线: 如需《GB/T 44181-2024》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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十多年的专业技术积累

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服务众多客户解决技术难题

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每年出具十余万+份技术报告

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2500+名专业技术人员

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