光学系统波前像差的测定 夏克-哈特曼光电测量法
Determination of wavefront aberration in optical systems—Electro-optical Shack-Hartmann method
基础信息
标准号:GB/T 44221-2024发布日期:2024-07-24实施日期:2025-02-01标准类别:方法中国标准分类号:L50国际标准分类号:17.180.99 归口单位:全国光电测量标准化技术委员会执行单位:全国光电测量标准化技术委员会主管部门:中国科学院
起草单位
中国科学院苏州生物医学工程技术研究所中国标准化研究院中国科学院长春光学精密机械与物理研究所中国计量科学研究院浙江舜宇光学有限公司苏州一光仪器有限公司中国科学院光电技术研究所中国科学院空天信息创新研究院苏州慧利仪器有限责任公司长春奥普光电技术股份有限公司成都科奥达光电技术有限公司舟山市质量技术监督检测研究院
起草人
史国华邢利娜蔡建奇王璞洪宝玉冯长有谢桂华伍开军何益杨金生刘春雨韩森包明帝叶虹沈晨雁郝华东
相近标准(计划)
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