国标依据

国标依据

服务热线:

埋层硅外延片

Silicon epitaxial wafers with buried layers

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 44334-2024发布日期:2024-08-23实施日期:2025-03-01标准类别:产品中国标准分类号:H82国际标准分类号:29.045 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门:国家标准委

起草单位

南京国盛电子有限公司上海晶盟硅材料有限公司中环领先半导体材料有限公司南京盛鑫半导体材料有限公司河北普兴电子科技股份有限公司赛晶亚太半导体科技(浙江)有限公司西安龙威半导体有限公司浙江金瑞泓科技股份有限公司浙江丽水中欣晶圆半导体科技有限公司有色金属技术经济研究院有限责任公司盖泽华矽半导体科技(上海)有限公司

起草人

仇光寅王银海贺东江马林宝李春阳徐西昌刘小青米姣谢进骆红顾广安李慎重徐新华袁夫通周益初张强

相近标准(计划)

20243061-T-469 300 mm硅外延片GB/T 14139-2019 硅外延片GB/T 14015-1992 硅-蓝宝石外延片GB/T 35310-2017 200mm硅外延片GB/T 30652-2023 硅外延用三氯氢硅GB/T 24575-2009 硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法20240139-T-469 硅外延用三氯氢硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法SJ/T 11470-2014 发光二极管外延片YS/T 1059-2015 硅外延用三氯氢硅中总碳的测定 气相色谱法GB/T 43885-2024碳化硅外延片

相关服务热线: 如需《GB/T 44334-2024》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

热门服务

关于微析院所

ABOUT US WEIXI

微析·国内大型研究型检测中心

微析研究所总部位于北京,拥有数家国内检测、检验(监理)、认证、研发中心,1家欧洲(荷兰)检验、检测、认证机构,以及19家国内分支机构。微析研究所拥有35000+平方米检测实验室,超过2000人的技术服务团队。

业务领域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试(光谱、能谱、质谱、色谱、核磁、元素、离子等测试服务)、性能测试、成分检测等服务;致力于化学材料、生物医药、医疗器械、半导体材料、新能源、汽车等领域的专业研究,为相关企事业单位提供专业的技术服务。

微析研究所是先进材料科学、环境环保、生物医药研发及CMC药学研究、一般消费品质量服务、化妆品研究服务、工业品服务和工程质量保证服务的全球检验检测认证 (TIC)服务提供者。微析研究所提供超过25万种分析方法的组合,为客户实现产品或组织的安全性、合规性、适用性以及持续性的综合检测评价服务。

十多年的专业技术积累

十多年的专业技术积累

服务众多客户解决技术难题

服务众多客户解决技术难题

每年出具十余万+份技术报告

每年出具十余万+份报告

2500+名专业技术人员

2500+名专业技术人员

微析·国内大型研究型检测中心
首页 领域 范围 电话