集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法

基础信息

标准号：GB/T 44937.4-2024发布日期：2024-12-31实施日期：2024-12-31标准类别：方法中国标准分类号：L56国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 61967-4:2021。采标中文名称:集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法。

起草单位

中国电子技术标准化研究院南京容测检测技术有限公司工业和信息化部电子第五研究所北京无线电计量测试研究所中国科学院微电子研究所苏州泰思特电子科技有限公司广州市诚臻电子科技有限公司扬芯科技（深圳）有限公司东南大学广州致远电子有限公司深圳市北测标准技术服务有限公司北京智芯微电子科技有限公司天津先进技术研究院河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司安徽省计量科学研究院中国汽车工程研究院股份有限公司江苏省计量科学研究院南京师范大学重庆仕益产品质量检测有限责任公司

起草人

崔强付君吴建飞邢立文李腾飞李彬鸿胡小军黄雪梅周雷杨红波刘洋陈勇志乔彦彬方文啸朱赛刘星汛王少启谢玉章邵鄂李楠颜伟周香张红丽

相近标准(计划)

YD/T 1690.4-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz～1GHz） 第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合方法20214066-T-339 集成电路 电磁发射测量 第6部分：传导发射测量 磁场探头法20214063-T-339 集成电路 电磁发射测量 第5部分：传导发射测量 工作台法拉第笼法YD/T 1690.6-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz～1GHz） 第6部分：传导发射测量 磁场探头方法YD/T 1690.5-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz～1GHz） 第5部分：传导发射测量 法拉第笼方法20214069-T-339 集成电路电磁发射测量第3部分：辐射发射测量表面扫描法20221350-T-339 集成电路 电磁发射测量第1部分: 通用条件和定义20214064-T-339 集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 带状线法YD/T 1690.3-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz～1GHz） 第3部分：辐射发射测量 外表扫描方法20213162-T-339 集成电路 电磁发射测量 第2部分：辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法

相关服务热线： 如需《GB/T 44937.4-2024》相关的服务，可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国，专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。