微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction
基础信息
标准号：GB/T 20724-2021发布日期：2021-12-31实施日期：2022-07-01全部代替标准：GB/T 20724-2006标准类别：方法中国标准分类号：N53国际标准分类号：71.040.99 归口单位：全国微束分析标准化技术委员会执行单位：全国微束分析标准化技术委员会主管部门：国家标准委
起草单位
北京科技大学中国航发北京航空材料研究院
起草人
柳得橹娄艳芝
相近标准(计划)
GB/T 43088-2023 微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法20232638-T-469 微束分析 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法20253714-T-469 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法20253748-T-469 微束分析 分析电镜（AEM/EDS）纳米薄标样通用规范20250725-T-469 微束分析 分析电子显微术 核壳颗粒壳壁厚度的测量方法20253638-T-469 微束分析 扫描电镜能谱仪定量分析参数的测定方法GB/T 18907-2013 微束分析分析电子显微术透射电镜选区电子衍射分析方法20250336-T-469 微束分析 扫描电子显微术 术语20250211-T-469 微束分析 电子探针显微分析 黄金制品含量的测定20253756-T-469 微束分析 电子背散射衍射取向分析方法导则
相关服务热线： 如需《GB/T 20724-2021》相关的服务，可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国，专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。
热门服务
