CMOS集成电路抗辐射加固设计要求
Design requirements of radiation hardening for CMOS IC
基础信息
标准号:GB/T 41033-2021发布日期:2021-12-31实施日期:2022-07-01标准类别:方法中国标准分类号:V29国际标准分类号:49.035 归口单位:全国宇航技术及其应用标准化技术委员会执行单位:全国宇航技术及其应用标准化技术委员会主管部门:国家标准委
起草单位
中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所
起草人
刘智葛梅岳红菊于洪波耿增建胡巧玉谢成民王斌姚思远李海松
相近标准(计划)
GB/T 43228-2023 宇航用抗辐射加固集成电路单元库设计要求GB/T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法SJ/T 10038-1991 半导体集成电路CMOS4000系列运算器SJ/T 10039-1991 半导体集成电路CMOS4000系列译码器SJ/T 10041-1991 半导体集成电路CMOS4000系列移位寄存器SJ/T 10254-1991 半导体集成电路CB301型CMOS模拟开关详细规范SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T 10253-1991 半导体集成电路CC4046型CMOS数字锁相环详细规范SJ/T 10252-1991 半导体集成电路CB7660型CMOS电源电压转换器详细规范SJ/T 10428-1993 54/74HC、54/74HCT、54/74HCV系列高速CMOS数字集成电路空白详细规范
相关服务热线: 如需《GB/T 41033-2021》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。
热门服务