国标依据

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集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片

Low density crystal originated pit polished monocrystalline silicon wafers for integrated circuit

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 41325-2022发布日期:2022-03-09实施日期:2022-10-01标准类别:产品中国标准分类号:H82国际标准分类号:29.045 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门:国家标准委

起草单位

有研半导体硅材料股份公司杭州中欣晶圆半导体股份有限公司有色金属技术经济研究院有限责任公司中环领先半导体材料有限公司山东有研半导体材料有限公司南京国盛电子有限公司浙江金瑞泓科技股份有限公司浙江海纳半导体有限公司

起草人

孙燕宁永铎徐新华骆红张海英由佰玲钟耕杭李洋杨素心李素青潘金平

相近标准(计划)

LY/T 1718-2017 低密度和超低密度纤维板QB 1930-1993 给水用低密度聚乙烯(LDPE、LLDPE)管材QB/T 1930-2006 给水用低密度聚乙烯管材20232705-T-339 地面用晶体硅光伏电池总规范20202533-T-339 石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具20250087-T-469 集成电路用高纯硅靶材20250822-T-469 200mm碳化硅单晶抛光片SJ/T 11801—2024 晶体硅光伏电池用背面银浆SJ/T 11802—2024 晶体硅光伏电池用正面银浆20240494-T-469 碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法

相关服务热线: 如需《GB/T 41325-2022》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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业务领域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试(光谱、能谱、质谱、色谱、核磁、元素、离子等测试服务)、性能测试、成分检测等服务;致力于化学材料、生物医药、医疗器械、半导体材料、新能源、汽车等领域的专业研究,为相关企事业单位提供专业的技术服务。

微析研究所是先进材料科学、环境环保、生物医药研发及CMC药学研究、一般消费品质量服务、化妆品研究服务、工业品服务和工程质量保证服务的全球检验检测认证 (TIC)服务提供者。微析研究所提供超过25万种分析方法的组合,为客户实现产品或组织的安全性、合规性、适用性以及持续性的综合检测评价服务。

十多年的专业技术积累

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服务众多客户解决技术难题

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每年出具十余万+份技术报告

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2500+名专业技术人员

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