光掩模缺陷分类和尺寸定义的准则
Guidelines for photomask defect classification and size definition
基础信息
标准号:GB/T 16880-1997发布日期:1997-06-20实施日期:1998-03-01上次复审日期:2016-12-31上次复审结论:继续有效标准类别:基础中国标准分类号:L97国际标准分类号:31.020 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会微光刻分会主管部门:国家标准委
采标情况
本标准等同采用其他国际标准:SEMI P22:1993。采标中文名称:。
起草单位
中国科学院微电子中心
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