硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法
Determination of nitrogen content in silicon single crystal—Secondary ion mass spectrometry method
基础信息
标准号：GB/T 42263-2022发布日期：2022-12-30实施日期：2023-04-01标准类别：方法中国标准分类号：H17国际标准分类号：77.040 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门：国家标准委
起草单位
中国电子科技集团公司第四十六研究所有色金属技术经济研究院有限责任公司
起草人
马农农何友琴刘立娜何烜坤李素青陈潇
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