国标依据

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MEMS压阻式压力敏感器件性能试验方法

Test methods of the performances for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 42191-2023发布日期:2023-05-23实施日期:2023-09-01标准类别:方法中国标准分类号:L59国际标准分类号:31.080.99 归口单位:全国微机电技术标准化技术委员会执行单位:全国微机电技术标准化技术委员会主管部门:国家标准委

起草单位

北京大学北京智芯传感科技有限公司厦门光莆电子股份有限公司宁波志伦电子有限公司华东光电集成器件研究所南京高华科技股份有限公司湖南国天电子科技有限公司广州广电计量检测股份有限公司深圳安培龙科技股份有限公司中机生产力促进中心有限公司昆山昆博智能感知产业技术研究院有限公司江门市润宇传感器科技有限公司广州奥松电子股份有限公司深圳市美思先端电子有限公司中国科学院微电子研究所南京沃天科技股份有限公司武汉飞恩微电子有限公司昆山传感器测控技术有限公司

起草人

张威顾枫李宋张亚婷林瑞梅李树成王鹏李晓波陈路高峰陈君杰王冰李根梓陈广忠张良陈立国茅曙张宾许宙王玮冰明志茂曹万

相近标准(计划)

GB/T 33922-2017 MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法20252568-T-604 硅压阻式压力敏感芯片20242019-T-469 微机电系统(MEMS)技术 MEMS硅压阻温压复合压力传感器芯片GB/T 28856-2012 硅压阻式压力敏感芯片JB/T 12937-2016 压阻式陶瓷压力传感器JB/T 10524-2005 硅压阻式压力传感器SJ/T 10429-1993 压阻式压力传感器总规范SJ/T 10430-1993 压阻式压力传感器空白详细规范GB/T 26807-2011 硅压阻式动态压力传感器20242021-T-469 微机电系统(MEMS)技术MEMS电容式麦克风性能试验方法

相关服务热线: 如需《GB/T 42191-2023》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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十多年的专业技术积累

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服务众多客户解决技术难题

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每年出具十余万+份技术报告

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2500+名专业技术人员

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