硅片表面光泽度的测试方法

基础信息

标准号：GB/T 42789-2023发布日期：2023-08-06实施日期：2024-03-01标准类别：方法中国标准分类号：H21国际标准分类号：77.040 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门：国家标准委

起草单位

浙江金瑞泓科技股份有限公司有色金属技术经济研究院有限责任公司山东有研半导体材料有限公司麦斯克电子材料股份有限公司浙江旭盛电子有限公司金瑞泓科技（衢州）有限公司浙江海纳半导体股份有限公司天津中环领先材料技术有限公司上海合晶硅材料股份有限公司广东金湾高景太阳能科技有限公司巢湖学院

起草人

梁兴勃李琴潘金平李素青边永智庄智慧韩云霄徐志群王可胜张海英林松青张雪囡由佰玲沈辉辉焦二强付明全詹玉峰

相近标准(计划)

20250148-T-469 300 mm硅片表面纳米形貌的评价方法GB/T 6621-2009 硅片表面平整度测试方法GB/T 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法GB/T 30860-2014 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法SJ/T 11632-2016 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法GB/T 40279-2021 硅片表面薄膜厚度的测试光学反射法20253666-T-609 平板玻璃表面渗锡量的测试方法DB65/T 3068-2010 毛绒色彩和光泽度测试方法GB/T 11420-2024 搪瓷制品和瓷釉 光泽度测试方法SJ/T 11630-2016 太阳能电池用硅片几何尺寸测试方法

相关服务热线： 如需《GB/T 42789-2023》相关的服务，可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国，专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。