表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量:测量系统校准
Surface chemical analysis—Scanning probe microscopy—Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems
基础信息
标准号:GB/T 42659-2023发布日期:2023-08-06实施日期:2024-03-01标准类别:方法中国标准分类号:G04国际标准分类号:71.040.40 归口单位:全国表面化学分析标准化技术委员会执行单位:全国表面化学分析标准化技术委员会主管部门:中国科学院
采标情况
本标准等同采用ISO国际标准:ISO 11952:2019。采标中文名称:表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量:测量系统校准。
起草单位
中国计量科学研究院西安交通大学上海市计量测试技术研究院
起草人
李伟蔡潇雨程碧瑶魏佳斯李适杨树明高思田
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