国标依据

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服务热线:

半导体集成电路 片上系统(SoC)

Semiconductor integrated circuits—System on chip(SoC)

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 42835-2023发布日期:2023-08-06实施日期:2023-12-01标准类别:产品中国标准分类号:L56国际标准分类号:31.200 归口单位:全国集成电路标准化技术委员会执行单位:全国集成电路标准化技术委员会主管部门:工业和信息化部(电子)

起草单位

中国电子技术标准化研究院北京芯可鉴科技有限公司北京智芯微电子科技有限公司杭州万高科技股份有限公司

起草人

罗晓羽徐平江邵瑾陈燕宁张海峰梁路辉钟明琛赵扬朱松超王于波夏军虎何杰

相近标准(计划)

GB/T 42576-2023 北斗/全球卫星导航系统(GNSS)高精度片上系统(SoC)技术要求及测试方法SJ/Z 11355-2006 集成电路IP/SoC功能验证规范20233861-T-339 半导体集成电路封装术语20240248-T-339 半导体集成电路 图形处理器(GPU)GB/T 12750-2006 半导体器件集成电路第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路)20242554-T-339 半导体集成电路 嵌入式存储器接口要求20232703-T-339 半导体集成电路 电压调整器系列和品种20242556-T-339 半导体集成电路 嵌入式存储器测试方法20233686-T-339 半导体器件 集成电路第2部分:数字集成电路 第八篇:集成电路静态读/写存储器空白详细规范20233682-T-339 半导体集成电路文字符号 引出端功能符号

相关服务热线: 如需《GB/T 42835-2023》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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微析研究所是先进材料科学、环境环保、生物医药研发及CMC药学研究、一般消费品质量服务、化妆品研究服务、工业品服务和工程质量保证服务的全球检验检测认证 (TIC)服务提供者。微析研究所提供超过25万种分析方法的组合,为客户实现产品或组织的安全性、合规性、适用性以及持续性的综合检测评价服务。

十多年的专业技术积累

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服务众多客户解决技术难题

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每年出具十余万+份技术报告

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2500+名专业技术人员

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