半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
Semiconductor intergrated circuits—Test method of direct digital frequency synthesizer
基础信息
标准号:GB/T 42848-2023发布日期:2023-08-06实施日期:2023-12-01标准类别:方法中国标准分类号:L56国际标准分类号:31.200 归口单位:全国集成电路标准化技术委员会执行单位:全国集成电路标准化技术委员会主管部门:工业和信息化部(电子)
起草单位
成都振芯科技股份有限公司中国电子技术标准化研究院
起草人
何善亮蒲佳范超吴淼杨阳刘纪祖王可李锟
相近标准(计划)
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