用于校准表面污染监测仪的参考源 第2部分:能量低于0.15MeV的电子和能量低于1.5MeV的光子
Reference sources for the calibration of surface contamination monitors--Part 2:Electrons of energy less than 0.15MeV and photons of energy less than 1.5MeV
基础信息
标准号：GB/T 12128.2-1999发布日期：1999-12-30实施日期：2000-08-01上次复审日期：2023-12-28上次复审结论：整合修订标准类别：基础中国标准分类号：F74国际标准分类号：17.240 归口单位：全国核能标准化技术委员会执行单位：全国核能标准化技术委员会辐射防护分会主管部门：国家标准委
采标情况
本标准等效采用ISO国际标准：ISO 8769-2:1996。采标中文名称:。
起草单位
中国辐射防护研究院
相近标准(计划)
20233738-T-469 用于校准表面污染监测仪的参考源 α、β和光子发射体GB/T 12128-1989 用于校准表面污染监测仪的参考源β发射体和α发射体20233739-T-469 用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的X和γ参考辐射 第3部分：场所剂量仪和个人剂量计的校准及其能量响应和角响应的测定20233750-T-469 用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的X和γ参考辐射第2部分：辐射防护用的能量范围为8 keV~1.3 MeV 和 4 MeV~9 MeV的剂量测定GB/T 12162.2-2004 用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的 X和γ参考辐射第2部分:辐射防护用的能量范围为 8keV～1.3MeV 和 4MeV～9MeV 的参考辐射的剂量测定20252356-T-469 用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的X和γ参考辐射 第4部分：低能X射线参考辐射场中场所和个人剂量仪的校准20241969-T-469 微束分析 分析电子显微术 用于电子能量损失谱元素分析的能量标尺校准程序20233749-T-469 用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的X和γ参考辐射 第1部分：辐射特性及产生方法GB/T 12162.3-2004 用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的 X和γ参考辐射第3部分:场所剂量仪和个人剂量计的校准及其能量响应和角响应的测定20252355-T-469 β参考辐射 第3部分:场所和个人剂量仪的校准及其能量响应和角响应的确定
相关服务热线： 如需《GB/T 12128.2-1999》相关的服务，可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国，专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。
热门服务
