硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法
Test method for carrier concentration of silicon epitaxial layers—Capacitance-voltage method
基础信息
标准号:GB/T 14146-2021发布日期:2021-05-21实施日期:2021-12-01全部代替标准:GB/T 14146-2009标准类别:方法中国标准分类号:H21国际标准分类号:77.040 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门:国家标准委
起草单位
南京国盛电子有限公司中电晶华(天津)半导体材料有限公司河北普兴电子科技股份有限公司瑟米莱伯贸易(上海)有限公司义乌力迈新材料有限公司有色金属技术经济研究院有限责任公司有研半导体材料有限公司浙江金瑞泓科技股份有限公司无锡华润上华科技有限公司
起草人
骆红潘文宾赵而敬张佳磊严琴黄宇程杨素心赵扬李慎重黄黎皮坤林
相近标准(计划)
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