200mm硅外延片

基础信息

标准号：GB/T 35310-2017发布日期：2017-12-29实施日期：2018-07-01标准类别：产品中国标准分类号：H82国际标准分类号：29.045 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门：国家标准委

起草单位

南京国盛电子有限公司有色金属技术经济研究院

起草人

马林宝骆红杨素心杨帆金龙

相近标准(计划)

20243061-T-469 300 mm硅外延片GB/T 14139-2019 硅外延片GB/T 14015-1992 硅-蓝宝石外延片GB/T 44334-2024埋层硅外延片GB/T 30652-2023 硅外延用三氯氢硅GB/T 24575-2009 硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法20240139-T-469 硅外延用三氯氢硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法20250822-T-469 200mm碳化硅单晶抛光片SJ/T 11470-2014 发光二极管外延片YS/T 1059-2015 硅外延用三氯氢硅中总碳的测定 气相色谱法

相关服务热线： 如需《GB/T 35310-2017》相关的服务，可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国，专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。