晶体硅光伏(PV)方阵 I-V特性的现场测量
Crystalline silicon photovoltaic(PV) array--On-site measurement of I-V characteristics
基础信息
标准号:GB/T 18210-2000发布日期:2000-10-17实施日期:2001-05-01上次复审日期:2023-12-28上次复审结论:修订标准类别:方法中国标准分类号:K83国际标准分类号:27.160 归口单位:全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会执行单位:全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会主管部门:工业和信息化部(电子)
采标情况
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 61829:1995。采标中文名称:。
起草单位
信息产业部电子第十八研究所
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