国标依据

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半导体集成电路 电平转换器测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 35006-2018发布日期:2018-03-15实施日期:2018-08-01标准类别:方法中国标准分类号:L56国际标准分类号:31.200 归口单位:全国集成电路标准化技术委员会执行单位:全国集成电路标准化技术委员会主管部门:工业和信息化部(电子)

起草单位

深圳市国微电子有限公司工业和信息化部电子第五研究所中国电子科技集团公司第五十八研究所成都振芯科技股份有限公司

起草人

宦承永邬海忠王小强罗彬陆坚魏军

相近标准(计划)

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相关服务热线: 如需《GB/T 35006-2018》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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十多年的专业技术积累

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服务众多客户解决技术难题

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每年出具十余万+份技术报告

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