特殊结构的电子数显外径千分尺
Special design external micrometer with electronic digital display
基础信息
标准号:GB/T 36175-2018发布日期:2018-05-14实施日期:2018-12-01上次复审日期:2025-07-01上次复审结论:继续有效标准类别:产品中国标准分类号:J42国际标准分类号:17.040.30 归口单位:全国量具量仪标准化技术委员会执行单位:全国量具量仪标准化技术委员会主管部门:中国机械工业联合会
起草单位
苏州麦克龙测量技术有限公司桂林量具刃具有限责任公司广西壮族自治区计量检测研究院成都工具研究所有限公司桂林广陆数字测控有限公司辽宁省计量科学研究院
起草人
黄晓宾王荣华闫列雪李双定许刚赵伟荣张瑜
相近标准(计划)
JB 6079-1992 电子数显外径千分尺GB/T 20919-2018 电子数显外径千分尺GB/T 22093-2018 电子数显内径千分尺GB/T 22092-2018 电子数显测微头和深度千分尺20253465-T-469 产品几何技术规范(GPS)尺寸测量设备 外径千分尺的设计与计量特性GB/T 1216-2018 外径千分尺JB/T 10007-2012 大外径千分尺 (测量范围为1000mm~3000mm)JB/T 10007-1999 大外径千分尺(测量范围为1000mm~3000mm)20242284-T-491 高深宽比微结构形貌参数显微干涉测量方法JB 5609-1991 电子数显高度卡尺
相关服务热线: 如需《GB/T 36175-2018》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。
热门服务