国标依据

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硅单晶抛光片

Monocrystalline silicon polished wafers

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 12964-2018发布日期:2018-09-17实施日期:2019-06-01全部代替标准:GB/T 12964-2003标准类别:产品中国标准分类号:H82国际标准分类号:29.045 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门:国家标准委

起草单位

有研半导体材料有限公司浙江金瑞泓科技股份有限公司浙江省硅材料质量检验中心天津市环欧半导体材料技术有限公司上海合晶硅材料有限公司浙江海纳半导体有限公司有色金属技术经济研究院

起草人

孙燕卢立延楼春兰杨素心徐新华张海英潘金平张雪囡

相近标准(计划)

20250822-T-469 200mm碳化硅单晶抛光片20240494-T-469 碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法SJ/T 11502-2015 碳化硅单晶抛光片规范GB/T 30656-2023 碳化硅单晶抛光片GB/T 29506-2013 300mm 硅单晶抛光片SJ/T 11504-2015 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法SJ/T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法GB/T 31351-2014 碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法GB/T 41325-2022 集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片

相关服务热线: 如需《GB/T 12964-2018》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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微析研究所是先进材料科学、环境环保、生物医药研发及CMC药学研究、一般消费品质量服务、化妆品研究服务、工业品服务和工程质量保证服务的全球检验检测认证 (TIC)服务提供者。微析研究所提供超过25万种分析方法的组合,为客户实现产品或组织的安全性、合规性、适用性以及持续性的综合检测评价服务。

十多年的专业技术积累

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服务众多客户解决技术难题

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每年出具十余万+份技术报告

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2500+名专业技术人员

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