国标依据

国标依据

服务热线:

硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法

Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers and silicon ingots—Non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance method

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 26068-2018发布日期:2018-12-28实施日期:2019-11-01全部代替标准:GB/T 26068-2010标准类别:方法中国标准分类号:H21国际标准分类号:77.040 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门:国家标准委

起草单位

有研半导体材料有限公司中国计量科学研究院广州市昆德科技有限公司天津市环欧半导体材料技术有限公司瑟米莱伯贸易(上海)有限公司浙江省硅材料质量检验中心江苏协鑫硅材料科技发展有限公司北京合能阳光新能源技术有限公司

起草人

曹孜孙燕徐红骞高英王昕张雪囡肖宗杰黄黎赵而敬石宇楼春兰林清香刘卓

相近标准(计划)

GB/T 42907-2023 硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定光电导衰减法20250731-T-469 碳化硅外延层载流子寿命的测试 瞬态吸收法GB/T 32280-2022 硅片翘曲度和弯曲度的测试自动非接触扫描法GB/T 6620-2009 硅片翘曲度非接触式测试方法GB/T 19922-2005 硅片局部平整度非接触式标准测试方法GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及总厚度变化测试自动非接触扫描法GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法GB/T 35465.2-2017 聚合物基复合材料疲劳性能测试方法 第2部分:线性或线性化应力寿命(S-N)和应变寿命(ε-N)疲劳数据的统计分析YD/T 4539-2023 基于近场通信(NFC)的移动通信终端和非接触式销售点(PoS)的互操作要求和测试方法

相关服务热线: 如需《GB/T 26068-2018》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

热门服务

关于微析院所

ABOUT US WEIXI

微析·国内大型研究型检测中心

微析研究所总部位于北京,拥有数家国内检测、检验(监理)、认证、研发中心,1家欧洲(荷兰)检验、检测、认证机构,以及19家国内分支机构。微析研究所拥有35000+平方米检测实验室,超过2000人的技术服务团队。

业务领域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试(光谱、能谱、质谱、色谱、核磁、元素、离子等测试服务)、性能测试、成分检测等服务;致力于化学材料、生物医药、医疗器械、半导体材料、新能源、汽车等领域的专业研究,为相关企事业单位提供专业的技术服务。

微析研究所是先进材料科学、环境环保、生物医药研发及CMC药学研究、一般消费品质量服务、化妆品研究服务、工业品服务和工程质量保证服务的全球检验检测认证 (TIC)服务提供者。微析研究所提供超过25万种分析方法的组合,为客户实现产品或组织的安全性、合规性、适用性以及持续性的综合检测评价服务。

十多年的专业技术积累

十多年的专业技术积累

服务众多客户解决技术难题

服务众多客户解决技术难题

每年出具十余万+份技术报告

每年出具十余万+份报告

2500+名专业技术人员

2500+名专业技术人员

微析·国内大型研究型检测中心
首页 领域 范围 电话