确定晶片坐标系规范
Specification for establishing a wafer coordinate system
基础信息
标准号:GB/T 16596-2019发布日期:2019-03-25实施日期:2020-02-01全部代替标准:GB/T 16596-1996标准类别:基础中国标准分类号:H80国际标准分类号:29.045 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门:国家标准委
起草单位
有色金属技术经济研究院浙江海纳半导体有限公司上海合晶硅材料有限公司有研半导体材料有限公司浙江省硅材料质量检验中心
起草人
卢立延孙燕楼春兰胡金枝潘金平杨素心李素青
相近标准(计划)
20250748-T-609 金刚石单晶片20250721-T-609 金刚石多晶片GB/T 28584-2012 城市坐标系统建设规范20194111-T-339 声表面波器件用单晶晶片 规范与测量方法YS/T 986-2014 晶片正面系列字母数字标志规范GB/T 16595-2019 晶片通用网格规范GB/T 30112-2013 月球空间坐标系GB/T 42042-2022 空间站坐标系20241911-T-469 太阳能电池用硅单晶及硅单晶片GA/T 629-2006 警用电子地图坐标系与比例尺
相关服务热线: 如需《GB/T 16596-2019》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。
热门服务