石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量

基础信息

标准号：GB/T 22319.7-2015发布日期：2015-06-02实施日期：2016-02-01上次复审日期：2016-12-31上次复审结论：继续有效标准类别：方法中国标准分类号：L21国际标准分类号：31.140 归口单位：全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会执行单位：全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60444-7:2004。采标中文名称:石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变和频率跳变的测量。

起草单位

中国电子元件行业协会压电晶体分会唐山晶源裕丰电子股份有限公司南京中电熊猫晶体科技有限公司郑州原创电子科技有限公司

起草人

章怡梁生元胡志雄邹飞

相近标准(计划)

20202533-T-339 石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具SJ/T 11210-1999 石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算GB/T 22319.9-2018 石英晶体元件参数的测量 第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量GB/T 22319.8-2008 石英晶体元件参数的测量第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具SJ/T 11211-1999 石英晶体元件参数的测量 第5部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法GB/T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量20214732-T-339 有质量评定的石英晶体元件 第6部分 有热敏电阻的晶体元件20233710-T-339 有质量评定的石英晶体元件 第1部分：总规范SJ/T 10639-1995 石英晶体元件术语

相关服务热线： 如需《GB/T 22319.7-2015》相关的服务，可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国，专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。